仪表性能杂质分析

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.颗粒杂质检测：颗粒数量，颗粒粒径，颗粒分布，颗粒形貌，颗粒来源分析。

2.金属杂质检测：铁元素残留，铜元素残留，铝元素残留，镍元素残留，铬元素残留。

3.非金属杂质检测：无机盐残留，硅质杂质，氧化物杂质，纤维杂质，粉尘杂质。

4.有机污染物检测：油脂残留，润滑剂残留，清洗剂残留，密封材料析出物，挥发性有机残留。

5.腐蚀产物分析：锈蚀产物种类，腐蚀沉积物成分，腐蚀层厚度，腐蚀区域分布，腐蚀程度评估。

6.沉积物成分分析：表面沉积物组成，管路沉积物组成，腔体附着物成分，结垢物成分，析出物含量。

7.密封系统洁净度检测：密封面残留物，密封圈附着颗粒，密封腔污染物，泄漏相关杂质，密封材料脱落物。

8.液路杂质检测：液体介质不溶物，悬浮颗粒，过滤后残渣，液路堵塞物，流道附着杂质。

9.气路杂质检测：气体颗粒物，冷凝残留物，气路沉积物，进样通道污染物，堵塞性杂质。

10.材料析出物分析：金属析出物，涂层脱落物，塑料迁移物，橡胶析出物，粘结材料残留。

11.表面污染检测：表面残渣，指示部件污染物，探头附着物，接触面污染层，装配污染残留。

12.功能影响评估：灵敏度影响分析，响应迟滞影响，零点漂移关联分析，重复性影响分析，稳定性影响分析。

检测范围

压力仪表、温度仪表、流量仪表、液位仪表、分析仪表、控制阀附件、传感器壳体、测量探头、取样管路、仪表接头、密封组件、膜片部件、过滤组件、显示组件、转换器部件、阀体内腔、导压系统、校准容器

检测设备

1.光学显微镜：用于观察杂质颗粒的外观形态、分布状态及表面附着特征。

2.电子显微镜：用于高倍观察微小颗粒、沉积物和腐蚀产物的微观形貌特征。

3.能谱分析仪：用于测定颗粒及沉积物中的元素组成，辅助判断杂质来源。

4.激光粒度分析仪：用于测定颗粒杂质的粒径范围及分布情况。

5.颗粒计数器：用于统计液体或气体样品中的颗粒数量及粒径分级。

6.红外光谱仪：用于分析有机残留物、油脂污染物及高分子析出物的组成特征。

7.色谱分析仪：用于分离和分析挥发性或半挥发性污染物成分。

8.元素分析仪：用于测定金属杂质及无机残留中的元素含量变化。

9.表面轮廓仪：用于评估沉积层、腐蚀层及附着物对表面状态的影响。

10.洁净度分析系统：用于收集、过滤并综合评估仪表部件中的颗粒污染水平。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质